此工具可根据物镜放大倍数和数值孔径将成像系统的采样频率以热图形式呈现出来。在“光学与传感器参数”面板调整波长、像素大小以及额外的放大倍数，以匹配您的具体设置。使用绘图工具栏来更改显示设置，包括线性或对数缩放。在“我的显微镜”面板输入物镜参数，以评估样品平面和传感器平面的采样频率和分辨率限制。