inspec.x M

inspec.x M

Les lentilles de la série inspec.x M sont spécialement conçues pour les applications de balayage linéaire et de balayage de surface à faible luminosité.​​​​​​​ Dotées d'une mise au point manuelle et d'un diaphragme manuel verrouillables, ces lentilles à monture F constituent le choix idéal pour les capteurs allant jusqu'à 35 mm lorsqu'une grande ouverture est requise.​​​​​​​ Les lentilles de la série inspec.X M 1.4/50 mm sont offertes pour une utilisation dans le domaine spectral visible ou dans le proche infrarouge.

La série inspec.x M offre une solution de lentille qui se situe entre nos lentilles MeVis-C à monture C de la plus haute résolution et nos lentilles inspec.x L grand format afin de répondre aux besoins particuliers des applications de visionique​​​​​​​.

La lentille de la version pour le proche infrarouge est dotée d'un revêtement pour les longueurs d'onde comprises entre 900 et 1350 nm, ce qui en fait un choix idéal pour les applications telles que l'électroluminescence et la photoluminescence.

  • Large plage de grossissement
  • Ouverture numérique très élevée​​​​​​​
  • Faible distorsion​​​​​​​
  • Gamme de grossissement : 0 à 0,15
  • Zone de l'image : 43,3 mm
  • Taille maximale du capteur : format de 35 mm
  • Monture d'appareil photo : monture F
  • Mise au point : manuelle, verrouillable
  • Diaphragme à iris : manuel, verrouillable

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Numéro de pièceDescription du produitLongueur focaleF-numberGamme F-numberPortée mag.Grossissement optimiséZone de l'imageTaille maximale du capteurInterfaceFilets du filtre
mmmmDiamètre, mm
0009-243- 000-40inspec.x M 1.4/50x501,41.4 … 16-0.15 ... 0-0,0743,3format 35 mmMonture FM58 x 0,75
0009-243- 000-42inspec.x M NIR 1.4/50501,41.4 … 16-0.15 ... 0-0,0743,3format 35 mmMonture FM58 x 0,75

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