PIÈCE/ 85108076053
pco.pixelfly 105 bi CLHS 100G
Le pco.pixelfly CLHS 105 MP est une solution d'imagerie haut de gamme pour les applications nécessitant un maximum de détails d'image, un débit élevé et des performances de mesure fiables. Combinant imagerie à ultra-haute résolution, fréquences d'images élevées, qualité d'image de niveau scientifique et transmission de données à haut débit CLHS dans une seule plateforme évolutive, elle permet l'acquisition d'images très détaillées sans compromettre la vitesse ni la précision. Conçue pour les environnements scientifiques et industriels exigeants, la caméra offre une qualité d'image exceptionnelle, des résultats de mesure précis et une fiabilité opérationnelle à toute épreuve. Son interface CLHS à large bande passante prend en charge le transfert continu de grands ensembles de données d'images, ce qui la rend idéale pour l'inspection des semi-conducteurs, la métrologie, l'instrumentation des sciences de la vie et la vision industrielle de grande surface.
La pco.pixelfly 105 bi CLHS offre une qualité d’image et une performance sans compromis pour les applications d’imagerie les plus exigeantes. Dotée d’un capteur de 105 mégapixels à ultra haute résolution, elle capture les détails les plus fins sur de grands champs de vision tout en maintenant une excellente plage dynamique et une imagerie sans distorsion. Combinée à l’interface CLHS haute vitesse, la caméra permet le transfert continu de grands ensembles de données d’image, ce qui la rend particulièrement adaptée à l’inspection des semi-conducteurs, à la métrologie de précision, aux sciences de la vie et aux systèmes avancés de vision industrielle. Sa haute résolution, son débit élevé et ses performances fiables répondent aux exigences de l’imagerie scientifique et industrielle de nouvelle génération.
| Technologie des capteurs | BSI CMOS |
| Résolution (H x V) | 10240 x10240 |
| Taille des pixels (H x V) | 2,74 |
| Diagonale du capteur | 39,6 mm |
| Efficacité quantique de pointe | 75,0 % |
| Longueur d'onde de rendement quantique maximal | 500,0 nm |
| Obturateur global | oui |
| Modes de fonctionnement | 8 bits 10 bits 12 bits |
| Bruit de lecture efficace | 2.0 e- |
| Bruit de lecture médian | 2.0 e- |
| Capacité de remplissage | 9200 e- |
| Gamme dynamique | 4600:1 |
| Plage dynamique (log) | 73,0 dB |
| Courant d’obscurité | 3,2 e-/s |
| Température du capteur (référence du courant d'obscurité) | 35.0 °C |
| Fréquence d'images (capteur complet) | 100,0 fps |
| Convertisseur A/D à plage dynamique | 8 bits 10 bits 12 bits |
| Air forcé | oui |
| Interface de données | Camera Link HS FOL |
| Monture d'objectif incluse | Monture C, monture F |
| Largeur | 80,0 mm |
| Longueur | 105,0 mm |
| Poids (kg) | 1,0 |
| Hauteur | 80,0 mm |
| Numéro de pièce | 85108076053 |
Résolution allant jusqu’à 105 MP
- Capturez un maximum de détails sur de grands champs de vision.
- Réduisez le temps d’inspection et la complexité du système.
Acquisition d’images à haute vitesse
- Permet un débit plus élevé et des inspections plus rapides.
- Prend en charge les processus dynamiques et en évolution rapide.
Imagerie à obturateur global
- Élimine les distorsions dues aux mouvements.
- Assure des mesures précises des objets en mouvement.
Qualité d’image avancée
- Haute sensibilité et faible bruit.
- Résultats de mesure fiables et reproductibles.
Interface CLHS à large bande passante
- Transfert continu de grands ensembles de données d’image.
- Prend en charge les applications scientifiques et industrielles exigeantes.
Plusieurs options de résolution
- Modèles de 50 MP, 68 MP et 105 MP offerts.
- Permet d’optimiser les performances, le champ de vision et le budget.
Variantes LT offertes
- Solution économique pour les projets d’intégration FEO et industrielle.
Inspection des semiconducteurs
Inspection et métrologie des plaquettes
Inspection des écrans plats
Fabrication de matériel électronique
Imagerie scientifique
Instrumentation pour les sciences de la vie
Pathologie numérique
Systèmes de mesure de précision
Vision industrielle sur de grandes surfaces
Inspection optique automatisée (IOA)
| Technologie des capteurs | BSI CMOS |
| Résolution (H x V) | 10240 x10240 |
| Taille des pixels (H x V) | 2,74 |
| Diagonale du capteur | 39,6 mm |
| Efficacité quantique de pointe | 75,0 % |
| Longueur d'onde de rendement quantique maximal | 500,0 nm |
| Obturateur global | oui |
| Modes de fonctionnement | 8 bits 10 bits 12 bits |
| Bruit de lecture efficace | 2.0 e- |
| Bruit de lecture médian | 2.0 e- |
| Capacité de remplissage | 9200 e- |
| Gamme dynamique | 4600:1 |
| Plage dynamique (log) | 73,0 dB |
| Courant d’obscurité | 3,2 e-/s |
| Température du capteur (référence du courant d'obscurité) | 35.0 °C |
| Fréquence d'images (capteur complet) | 100,0 fps |
| Convertisseur A/D à plage dynamique | 8 bits 10 bits 12 bits |
| Air forcé | oui |
| Interface de données | Camera Link HS FOL |
| Monture d'objectif incluse | Monture C, monture F |
| Largeur | 80,0 mm |
| Longueur | 105,0 mm |
| Poids (kg) | 1,0 |
| Hauteur | 80,0 mm |
| Numéro de pièce | 85108076053 |
Résolution allant jusqu’à 105 MP
- Capturez un maximum de détails sur de grands champs de vision.
- Réduisez le temps d’inspection et la complexité du système.
Acquisition d’images à haute vitesse
- Permet un débit plus élevé et des inspections plus rapides.
- Prend en charge les processus dynamiques et en évolution rapide.
Imagerie à obturateur global
- Élimine les distorsions dues aux mouvements.
- Assure des mesures précises des objets en mouvement.
Qualité d’image avancée
- Haute sensibilité et faible bruit.
- Résultats de mesure fiables et reproductibles.
Interface CLHS à large bande passante
- Transfert continu de grands ensembles de données d’image.
- Prend en charge les applications scientifiques et industrielles exigeantes.
Plusieurs options de résolution
- Modèles de 50 MP, 68 MP et 105 MP offerts.
- Permet d’optimiser les performances, le champ de vision et le budget.
Variantes LT offertes
- Solution économique pour les projets d’intégration FEO et industrielle.
Inspection des semiconducteurs
Inspection et métrologie des plaquettes
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