PIÈCE/ 85108076061
pco.pixelfly 50 bi CLHS 100G
Le pco.pixelfly CLHS 50 MP est une solution d'imagerie haut de gamme pour les applications nécessitant un maximum de détails d'image, un débit élevé et des performances de mesure fiables. Combinant imagerie à ultra-haute résolution, fréquences d'images élevées, qualité d'image de niveau scientifique et transmission de données à haut débit CLHS dans une seule plateforme évolutive, elle permet l'acquisition d'images très détaillées sans compromettre la vitesse ni la précision. Conçue pour les environnements scientifiques et industriels exigeants, la caméra offre une qualité d'image exceptionnelle, des résultats de mesure précis et une fiabilité opérationnelle à toute épreuve. Son interface CLHS à large bande passante prend en charge le transfert continu de grands ensembles de données d'images, ce qui la rend idéale pour l'inspection des semi-conducteurs, la métrologie, l'instrumentation des sciences de la vie et la vision industrielle de grande surface.
The pco.pixelfly 50 bi CLHS delivers uncompromising image quality and performance for the most demanding imaging applications. Equipped with an ultra-high-resolution 50-megapixel sensor, it captures fine detail across large fields of view while maintaining excellent dynamic range and distortion-free imaging. Combined with the high-speed CLHS interface, the camera enables continuous transfer of large image datasets, making it well suited for semiconductor inspection, precision metrology, life sciences, and advanced machine vision systems. Its high resolution, high throughput, and reliable performance meet the demands of next-generation scientific and industrial imaging.
| Technologie des capteurs | BSI CMOS |
| Résolution (H x V) | 8192 x 6144 |
| Taille des pixels (H x V) | 2,74 |
| Diagonale du capteur | 28,0 mm |
| Numéro de pièce | 85108076061 |
Up to 50 MP Resolution
- Capture maximum detail across large fields of view.
- Reduce inspection time and system complexity.
High-Speed Image Acquisition
- Enables higher throughput and faster inspections.
- Supports dynamic and rapidly changing processes.
Global Shutter Imaging
- Eliminates motion distortion.
- Ensures accurate measurements of moving objects.
Advanced Image Quality
- High sensitivity and low noise.
- Reliable and reproducible measurement results.
CLHS High-Bandwidth Interface
- Continuous transfer of massive image datasets.
- Supports demanding scientific and industrial applications.
Multiple Resolution Options
- 50 MP, 68 MP, and 105 MP models available.
- Allows optimization for performance, field of view, and budget.
LT Variants Available
- Cost-effective solution for OEM and industrial integration projects.
Inspection des semiconducteurs
Wafer inspection and metrology
Flat-panel display inspection
Fabrication de matériel électronique
Imagerie scientifique
Life science instrumentation
Pathologie numérique
Precision measurement systems
Large-area machine vision
Automated optical inspection (AOI)
| Technologie des capteurs | BSI CMOS |
| Résolution (H x V) | 8192 x 6144 |
| Taille des pixels (H x V) | 2,74 |
| Diagonale du capteur | 28,0 mm |
| Numéro de pièce | 85108076061 |
Up to 50 MP Resolution
- Capture maximum detail across large fields of view.
- Reduce inspection time and system complexity.
High-Speed Image Acquisition
- Enables higher throughput and faster inspections.
- Supports dynamic and rapidly changing processes.
Global Shutter Imaging
- Eliminates motion distortion.
- Ensures accurate measurements of moving objects.
Advanced Image Quality
- High sensitivity and low noise.
- Reliable and reproducible measurement results.
CLHS High-Bandwidth Interface
- Continuous transfer of massive image datasets.
- Supports demanding scientific and industrial applications.
Multiple Resolution Options
- 50 MP, 68 MP, and 105 MP models available.
- Allows optimization for performance, field of view, and budget.
LT Variants Available
- Cost-effective solution for OEM and industrial integration projects.
Inspection des semiconducteurs
Wafer inspection and metrology
Flat-panel display inspection
Fabrication de matériel électronique
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Pathologie numérique
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Automated optical inspection (AOI)
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