Deuteriumlampen für HPLC

Deuterium-Lampen und Stromversorgungen

Excelitas bietet eine große Auswahl an hochwertigen, langlebigen Deuteriumlampen in verschiedenen Konfigurationen für eine Vielzahl von Anwendungen. Entsprechende Stromversorgungen mit intelligenter Zündung und geräuscharmem Betrieb sind auf Anfrage erhältlich.

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Das Portfolio an Deuteriumlampen von Excelitas umfasst Versionen aus Quarz- und UV-Glas, opake Ausführungen sowie verschiedene Bauformen und Fassungen.

Unsere neueste High Spectral Radiance​​​​​​​ Technologie macht unsere Deuteriumlampen zur idealen Wahl für Ultrahochleistungs-Flüssigkeitschromatographen (UHPLC) und hochwertige UV-Vis-Spektrophotometer.

  • Weniger Nachkalibrierungen der Geräte durch verbesserte Erhaltung der Intensität über die Lebensdauer
  • Besseres Signal-Rausch-Verhältnis/kürzere Abtastzeit​​​​​​​
  • Höherer Durchsatz
  • Hochpräzise Analysenergebnisse​​​​​​​
  • Bestes Preis-Leistungs-Verhältnis und niedrigste Betriebskosten
Analytische Lichtquellen – Übersichtsbroschüre
  • Hochdruck-Flüssigkeitschromatographie (HPLC)
  • UV-Vis-Spektroskopie
  • Atomabsorptionsspektroskopie (AAS)
  • Dünnschichtmessung
  • Dünnschichtchromatographie (TLC)
  • Lichtquellen für Laboratorien​​​​​​​
  • Fluoreszenz-Spektroskopie
  • Überwachung der Verschmutzung
  • Halbleiter-Inspektion
  • Entfernung elektrostatischer Ladungen von Halbleiterwafern usw.
  • Flash-Chromatographie
  • Weniger Nachkalibrierungen der Geräte durch verbesserte Erhaltung der Intensität über die Lebensdauer
  • Besseres Signal-Rausch-Verhältnis/kürzere Abtastzeit​​​​​​​
  • Höherer Durchsatz
  • Hochpräzise Analysenergebnisse​​​​​​​
  • Bestes Preis-Leistungs-Verhältnis und niedrigste Betriebskosten
Analytische Lichtquellen – Übersichtsbroschüre
  • Hochdruck-Flüssigkeitschromatographie (HPLC)
  • UV-Vis-Spektroskopie
  • Atomabsorptionsspektroskopie (AAS)
  • Dünnschichtmessung
  • Dünnschichtchromatographie (TLC)
  • Lichtquellen für Laboratorien​​​​​​​
  • Fluoreszenz-Spektroskopie
  • Überwachung der Verschmutzung
  • Halbleiter-Inspektion
  • Entfernung elektrostatischer Ladungen von Halbleiterwafern usw.
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