pco.horizon 9.1 bi TDI CLHS Zeilenkamera
Die pco.horizon 9.1 bi TDI CLHS Zeilenkamera bietet eine Auflösung von 9K und 256 TDI-Stufen für hochpräzise Inspektionsanwendungen, die eine außergewöhnliche Empfindlichkeit, Auflösung und Bildstabilität erfordern. Ausgestattet mit einem temperaturstabilisierten, rückseitig belichteten CMOS-Sensor und zwei lichtempfindlichen Bändern liefert sie eine außergewöhnliche Bildqualität und Empfindlichkeit bei Zeilenraten von bis zu 600kHz. Die Schnittstelle Camera Link HS (CLHS) ermöglicht eine schnelle und zuverlässige Datenübertragung mit vereinfachter Verkabelung und gewährleistet so eine nahtlose Integration in leistungsstarke Bildverarbeitungssysteme. Dank ihrer robusten Bauweise, ihres flexiblen Wärmemanagements und ihrer einfachen Integration eignet sie sich ideal für anspruchsvolle Aufgaben in den Bereichen Halbleiterprüfung, Druckbildkontrolle, Bahninspektion und medizinische Bildgebung.
Mit einer Sensor-Pixelgröße von 5 µm, einer Auflösung von 9072 Pixeln und 256 TDI-Stufen setzt die pco.horizon 9.1 bi TDI einen neuen Maßstäb für Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und Bildstabilität in anspruchsvollen Hochgeschwindigkeitsumgebungen. Sie verfügt über einen rückseitig belichteten CMOS-Sensor und zwei lichtempfindliche Bänder. Diese bieten eine erhöhte Sensivität und ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis. Der temperaturstabilisierte Sensor der Kamera sorgt für eine zuverlässige und gleichbleibend hohe Bildqualität – selbst in thermisch anspruchsvollen Umgebungen.
| Schnittstelle | CLHS FOL |
| Sensortechnologie | Back Illuminated TDI-CMOS |
| Auflösung | 2 lichtempfindliche Bänder |
| Sensordiagonale | 45,36 mm |
| Pixelgröße | 5 μm x 5 μm |
| Maximale Zeilenrate | 600 kHz |
| Peak-QE | Standard: 82% bei 550 nm |
| Shutter-Typ | Global Shutter |
| Sensor-Kühlung | Luft- oder Flüssigkeitskühlung |
- Digitale Pathologie
- Flachbildschirminspektion
- Fluoreszenz Imaging
- Gensequenzierung
- Industrielle Qualitätskontrolle
- Industrielle Bildverarbeitung
- Materialprüfung
- Optische Prüfung
- Prüfung von Leiterplatten und Elektronik
- Waferinspektion
| Schnittstelle | CLHS FOL |
| Sensortechnologie | Back Illuminated TDI-CMOS |
| Auflösung | 2 lichtempfindliche Bänder |
| Sensordiagonale | 45,36 mm |
| Pixelgröße | 5 μm x 5 μm |
| Maximale Zeilenrate | 600 kHz |
| Peak-QE | Standard: 82% bei 550 nm |
| Shutter-Typ | Global Shutter |
| Sensor-Kühlung | Luft- oder Flüssigkeitskühlung |
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