pco.pixelfly 50 bi CLHS 100G
TEIL/ 85108076057

pco.pixelfly 68 bi CLHS 100G

Die pco.pixelfly CLHS 68 MP ist eine Premium-Bildgebungslösung für Anwendungen, die ein Höchstmaß an Bilddetail, hohen Durchsatz und zuverlässige Messleistung erfordern. Durch die Kombination von ultrahochauflösender Bildgebung, hohen Bildraten, wissenschaftlicher Bildqualität und CLHS-Hochgeschwindigkeitsdatenübertragung in einer einzigen skalierbaren Plattform ermöglicht sie die Erfassung hochdetaillierter Bilder, ohne dabei Abstriche bei Geschwindigkeit oder Genauigkeit zu machen. Die Kamera wurde für anspruchsvolle wissenschaftliche und industrielle Umgebungen entwickelt und liefert eine hervorragende Bildqualität, präzise Messergebnisse und robuste Betriebzuverlässigkeit. Ihre hochbandbreitige CLHS-Schnittstelle unterstützt die kontinuierliche Übertragung großer Bilddatensätze und eignet sich daher ideal für die Halbleiterprüfung, die Messtechnik, Geräte für die Biowissenschaften sowie die großflächige Machine Vision.

The pco.pixelfly 68 bi CLHS delivers uncompromising image quality and performance for the most demanding imaging applications. Equipped with an ultra-high-resolution 68-megapixel sensor, it captures fine detail across large fields of view while maintaining excellent dynamic range and distortion-free imaging. Combined with the high-speed CLHS interface, the camera enables continuous transfer of large image datasets, making it well suited for semiconductor inspection, precision metrology, life sciences, and advanced machine vision systems. Its high resolution, high throughput, and reliable performance meet the demands of next-generation scientific and industrial imaging.

Teilenummer 85108076057
  • Up to 68 MP Resolution

    • Capture maximum detail across large fields of view.
    • Reduce inspection time and system complexity.
  • High-Speed Image Acquisition

    • Enables higher throughput and faster inspections.
    • Supports dynamic and rapidly changing processes.
  • Global Shutter Imaging

    • Eliminates motion distortion.
    • Ensures accurate measurements of moving objects.
  • Advanced Image Quality

    • High sensitivity and low noise.
    • Reliable and reproducible measurement results.
  • CLHS High-Bandwidth Interface

    • Continuous transfer of massive image datasets.
    • Supports demanding scientific and industrial applications.
  • Multiple Resolution Options

    • 50 MP, 68 MP, and 105 MP models available.
    • Allows optimization for performance, field of view, and budget.
  • LT Variants Available

    • Cost-effective solution for OEM and industrial integration projects.
  • Halbleiter-Inspektion

  • Wafer inspection and metrology

  • Flat-panel display inspection

  • Elektronikfertigung

  • Wissenschaftliche Bildgebung

  • Life science instrumentation

  • Digitale Pathologie

  • Precision measurement systems

  • Large-area machine vision

  • Automated optical inspection (AOI)

Teilenummer 85108076057
  • Up to 68 MP Resolution

    • Capture maximum detail across large fields of view.
    • Reduce inspection time and system complexity.
  • High-Speed Image Acquisition

    • Enables higher throughput and faster inspections.
    • Supports dynamic and rapidly changing processes.
  • Global Shutter Imaging

    • Eliminates motion distortion.
    • Ensures accurate measurements of moving objects.
  • Advanced Image Quality

    • High sensitivity and low noise.
    • Reliable and reproducible measurement results.
  • CLHS High-Bandwidth Interface

    • Continuous transfer of massive image datasets.
    • Supports demanding scientific and industrial applications.
  • Multiple Resolution Options

    • 50 MP, 68 MP, and 105 MP models available.
    • Allows optimization for performance, field of view, and budget.
  • LT Variants Available

    • Cost-effective solution for OEM and industrial integration projects.
  • Halbleiter-Inspektion

  • Wafer inspection and metrology

  • Flat-panel display inspection

  • Elektronikfertigung

  • Wissenschaftliche Bildgebung

  • Life science instrumentation

  • Digitale Pathologie

  • Precision measurement systems

  • Large-area machine vision

  • Automated optical inspection (AOI)

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