Photodiode à avalanche au silicium (Si APD) Excelitas C30737MH-230-80N
PIÈCE/ C30737MH-500-90N

C30737MH-500-90N – PDA Si, 500 um, LLC, 900 nm amélioré

La photodiode à avalanche au silicium (Si APD) C30737MH-500-90N présente un diamètre actif de 500 µm et une réponse améliorée à 900 nm dans un support laminé sans plomb (LCC).

Caractéristiques principales :

  • Forte réactivité entre 500 et 1000 nm
  • Faible bruit et temps de montée extrêmement rapide à toutes les longueurs d'onde avec une réponse en fréquence supérieure à 380 MHz
  • Diamètre actif de 500 μm optimisé pour une une sensibilité de pointe à 900 nm
  • Option de support laminé sans plomb « MH »

Utilisations :

  • LiDAR
  • Télémétrie laser
  • Analyse de sécurité
  • Applications nécessitant un détecteur peu coûteux et très performant

Diamètre actif 500 μm
Longueur d’onde de sensibilité maximale 900 nm
Tension de claquage Vbd 180-260 regroupement de données possible)
Coefficient de température de Vop pour M constant 1,3 V/°C
Gain 100 @900nm
Sensibilité 60 A/W à 800 nm
Courant d'obscurité 0,1 <1 nA
Courant de bruit 0,1 pA/√Hz
Capacitance 1 pF
Temps de montée/descente 0,9 ns, charge de résistance = 50 Ω
Fréquence de coupure 380 MHz
Température d'entreposage -50 °C à +100 °C
Température de fonctionnement -40 °C à +85 °C
Boîtier 2 x 1,75 mm à exposition sur le dessus, laminé sans plomb à époxy, FR4 (LLC)
Diamètre actif 500 μm
Longueur d’onde de sensibilité maximale 900 nm
Tension de claquage Vbd 180-260 regroupement de données possible)
Coefficient de température de Vop pour M constant 1,3 V/°C
Gain 100 @900nm
Sensibilité 60 A/W à 800 nm
Courant d'obscurité 0,1 <1 nA
Courant de bruit 0,1 pA/√Hz
Capacitance 1 pF
Temps de montée/descente 0,9 ns, charge de résistance = 50 Ω
Fréquence de coupure 380 MHz
Température d'entreposage -50 °C à +100 °C
Température de fonctionnement -40 °C à +85 °C
Boîtier 2 x 1,75 mm à exposition sur le dessus, laminé sans plomb à époxy, FR4 (LLC)
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