PIÈCE/ XR2100, XP750
Système de mesure de la puissance optique X-Cite
Le système de mesure de la puissance optique X-Cite® est conçu pour mesurer la puissance optique en watts au niveau de l'échantillon pour assurer un éclairage uniforme et reproductible lors des expériences de recherche, ainsi que pour aider à la configuration et au dépannage des équipements. Le système comprend le capteur X-Cite XP750 au profil bas et épuré qui se fixe à la platine du microscope et permet de mesurer la puissance de sortie d'un illuminateur pour microscope X-Cite ou de toute autre source optique à épifluorescence. En intégrant une large gamme dynamique dans un capteur compact, nous avons simplifié plus que jamais l'obtention de ces informations essentielles.
Gamme dynamique étendue
Étalonné pour une utilisation à toute longueur d'onde située entre 320 et 750 nm, le X-Cite XP750 est compatible avec une gamme complète de filtres. Avec une sensibilité aux niveaux de puissance allant de 5 µW à 500 mW, il convient aux applications nécessitant un éclairage aussi bien à basse qu'à haute intensité. Cela le rend adapté à une utilisation sur des microscopes standards, confocaux, DSU et à d'autres configurations.
Polyvalent et pratique
Comme le X-Cite XP750 mesure la lumière directement sur la platine du microscope, il peut être utilisé avec n'importe quelle source optique à épifluorescence, y compris les lampes HBO/à mercure, les lampes aux halogénures ou au xénon, les lasers et les LED. Offrant un choix de centaines de longueurs d'onde, le X-Cite XR2100 vous permet de définir vos « longueurs d'onde préférées » afin qu'elles correspondent aux sources optiques et aux filtres que vous utilisez le plus souvent.
Résultats reproductibles
En mesurant et en enregistrant la puissance de sortie en unités absolues (watts) avec X-Cite, les niveaux d'éclairage utilisés dans une expérience peuvent toujours être reproduits, peu importe si les sources optiques, les guides optiques, les filtres et les autres composants optiques changent au fil du temps. Cette capacité unique est essentielle pour réduire le temps de traitement des images après les expériences, pour effectuer des comparaisons d'images précises et quantitatives ainsi que pour recueillir une documentation complète sur les expériences.
| CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES | X-Cite XR2100 | X-Cite XP750 |
| Comprend | Système de mesure de puissance portatif, adaptateur pour guide optique de 3 mm, CD du logiciel, câbles, guide d'utilisation | Capteur de puissance pour champ de l'objectif avec câble/connecteur pour X-Cite XR2100 |
| Intervalle de puissance | 50 mW à 10 W | 5 µW à 500 mW |
| Résolution de mesure | 0,1 mW à 0,01 W | 0,01 µW à 1 mW |
| Incertitude*** | ±5 % | ±6 % |
| Temps de réponse | 1 s | 600 ms (initial), 3 s (pour assurer une lecture stable) |
| Étalonnage | Traçable au NIST* | Traçable au NRC** |
| Gamme de longueurs d'onde | 340 nm à 675 nm | 320 nm à 750 nm |
| Types de lampes/sources optiques compatibles | X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite série 120 (avec un port d'entrée de 3 mm pour le guide optique) | X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite série 120, mercure/HBO, halogénures, xénon, LED, laser |
| Compatibilité des objectifs | Sans objet | 4X à 63X; couplés à l'air, avec un champ de vision de moins de 10 mm de diamètre |
| Écran | ACL à 3 chiffres, rétroéclairage | Via X-Cite XR2100 |
| Sélection de longueur d'onde | Sans objet | Intervalles de 1 nm avec les boutons haut/bas de l'interface du X-Cite XR2100 ou d'un PC |
| Capacité de stockage de données | Stockage de plus de 100 lectures sur l'appareil portable ou enregistrement direct via l'interface PC; exportation dans un format compatible avec les tableurs | Via X-Cite XR2100 |
| Commandes PC | Voir/changer les paramètres, télécharger/exporter les données stockées | Voir/changer les paramètres, définir les longueurs d'onde favorites, sauvegarder les données pour plusieurs objectifs, filtres, et réglages d'intensité, télécharger et exporter les données stockées |
| Protocole de commande | RS232 via le port COM virtuel (USB) | Via X-Cite XR2100 |
| Bloc d’alimentation | 2 batteries au lithium de 3,6 V | Via X-Cite XR2100 |
| Poids | 1 lb (450 g) | 2,9 oz (82 g) |
| Dimensions (sans le couvercle) | 7,5 x 4,5 x 2 po (19 x 11,5 x 5 cm) | 3 x 1 x 0,35 po x (75 x 2 5 x 9 mm) |
| Certifications mondiales | Marqué CE, conforme à la directive RoHS | Via X-Cite XR2100 |
| Garantie | 1 an | 1 an |
| Brevets | Le système de mesure de la puissance optique X-Cite intègre une technologie protégée par les brevets américains numéros 6 437 861 et 7 335 901 | |
*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***L'étalonnage des appareils X-Cite XR2100 et X-Cite XP750 devrait être effectué tous les douze mois. Communiquez avec nous pour obtenir de plus amples renseignements.
| CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES | X-Cite XR2100 | X-Cite XP750 |
| Comprend | Système de mesure de puissance portatif, adaptateur pour guide optique de 3 mm, CD du logiciel, câbles, guide d'utilisation | Capteur de puissance pour champ de l'objectif avec câble/connecteur pour X-Cite XR2100 |
| Intervalle de puissance | 50 mW à 10 W | 5 µW à 500 mW |
| Résolution de mesure | 0,1 mW à 0,01 W | 0,01 µW à 1 mW |
| Incertitude*** | ±5 % | ±6 % |
| Temps de réponse | 1 s | 600 ms (initial), 3 s (pour assurer une lecture stable) |
| Étalonnage | Traçable au NIST* | Traçable au NRC** |
| Gamme de longueurs d'onde | 340 nm à 675 nm | 320 nm à 750 nm |
| Types de lampes/sources optiques compatibles | X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite série 120 (avec un port d'entrée de 3 mm pour le guide optique) | X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite série 120, mercure/HBO, halogénures, xénon, LED, laser |
| Compatibilité des objectifs | Sans objet | 4X à 63X; couplés à l'air, avec un champ de vision de moins de 10 mm de diamètre |
| Écran | ACL à 3 chiffres, rétroéclairage | Via X-Cite XR2100 |
| Sélection de longueur d'onde | Sans objet | Intervalles de 1 nm avec les boutons haut/bas de l'interface du X-Cite XR2100 ou d'un PC |
| Capacité de stockage de données | Stockage de plus de 100 lectures sur l'appareil portable ou enregistrement direct via l'interface PC; exportation dans un format compatible avec les tableurs | Via X-Cite XR2100 |
| Commandes PC | Voir/changer les paramètres, télécharger/exporter les données stockées | Voir/changer les paramètres, définir les longueurs d'onde favorites, sauvegarder les données pour plusieurs objectifs, filtres, et réglages d'intensité, télécharger et exporter les données stockées |
| Protocole de commande | RS232 via le port COM virtuel (USB) | Via X-Cite XR2100 |
| Bloc d’alimentation | 2 batteries au lithium de 3,6 V | Via X-Cite XR2100 |
| Poids | 1 lb (450 g) | 2,9 oz (82 g) |
| Dimensions (sans le couvercle) | 7,5 x 4,5 x 2 po (19 x 11,5 x 5 cm) | 3 x 1 x 0,35 po x (75 x 2 5 x 9 mm) |
| Certifications mondiales | Marqué CE, conforme à la directive RoHS | Via X-Cite XR2100 |
| Garantie | 1 an | 1 an |
| Brevets | Le système de mesure de la puissance optique X-Cite intègre une technologie protégée par les brevets américains numéros 6 437 861 et 7 335 901 | |
*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***L'étalonnage des appareils X-Cite XR2100 et X-Cite XP750 devrait être effectué tous les douze mois. Communiquez avec nous pour obtenir de plus amples renseignements.
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