Système de mesure de la puissance optique X-Cite
Le système de mesure de la puissance optique X-Cite® est conçu pour mesurer la puissance optique en watts au niveau de l'échantillon pour assurer un éclairage uniforme et reproductible lors des expériences de recherche, ainsi que pour aider à la configuration et au dépannage des équipements. Le système comprend le capteur X-Cite XP750 au profil bas et épuré qui se fixe à la platine du microscope et permet de mesurer la puissance de sortie d'un illuminateur pour microscope X-Cite ou de toute autre source optique à épifluorescence. En intégrant une large gamme dynamique dans un capteur compact, nous avons simplifié plus que jamais l'obtention de ces informations essentielles.
Gamme dynamique étendue
Étalonné pour une utilisation à toute longueur d'onde située entre 320 et 750 nm, le X-Cite XP750 est compatible avec une gamme complète de filtres. Avec une sensibilité aux niveaux de puissance allant de 5 µW à 500 mW, il convient aux applications nécessitant un éclairage aussi bien à basse qu'à haute intensité. Cela le rend adapté à une utilisation sur des microscopes standards, confocaux, DSU et à d'autres configurations.
Polyvalent et pratique
Comme le X-Cite XP750 mesure la lumière directement sur la platine du microscope, il peut être utilisé avec n'importe quelle source optique à épifluorescence, y compris les lampes HBO/à mercure, les lampes aux halogénures ou au xénon, les lasers et les DEL. Offrant un choix de centaines de longueurs d'onde, le X-Cite XR2100 vous permet de définir vos « longueurs d'onde préférées » afin qu'elles correspondent aux sources optiques et aux filtres que vous utilisez le plus souvent.
Résultats reproductibles
En mesurant et en enregistrant la puissance de sortie en unités absolues (watts) avec X-Cite, les niveaux d'éclairage utilisés dans une expérience peuvent toujours être reproduits, peu importe si les sources optiques, les guides optiques, les filtres et les autres composants optiques changent au fil du temps. Cette capacité unique est essentielle pour réduire le temps de traitement des images après les expériences, pour effectuer des comparaisons d'images précises et quantitatives ainsi que pour recueillir une documentation complète sur les expériences.
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TECHNICAL SPECIFICATIONS |
X-Cite XR2100 |
X-Cite XP750 |
|
Includes |
Handheld power meter, adapter for 3mm light guide, software CD, cables, user manual |
Objective plane power sensor with cable / connector for X-Cite XR2100 |
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Power Range |
50 mW-10 W |
5 µW-500 mW |
|
Measurement Resolution |
0.1 mW-0.01 W |
0.01 µW-1 mW |
|
Uncertainty*** |
±5% |
±6% |
|
Response Time |
1 s |
600 ms (initial), 3 s (to ensure stable reading) |
|
Calibration |
Traceable to NIST* |
Traceable to NRC** |
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Wavelength Range |
340 nm-675 nm |
320 nm-750 nm |
|
Lamp Type / Light Source Compatibility |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Series (using 3 mm light guide input port) |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Series, Mercury / HBO, Metal Halide, Xenon, LED, Laser |
|
Objective Compatibility |
Not applicable |
4X-63X; air coupled, with FOV diameters less than 10mm |
|
Display |
3 digit LCD, backlight |
Via X-Cite XR2100 |
|
Wavelength Selection |
Not Applicable |
1nm increments using up / down buttons on X-Cite XR2100 or PC interface |
|
Data Capacity |
Store 100+ readings on handheld unit, or record directly into PC interface; export in spreadsheet compatible format |
Via X-Cite XR2100 |
|
PC Controls |
View / change settings, download / export stored data |
View / change settings, define favorite wavelengths, record data for multiple objectives / filters / intensity settings, download / export stored data |
|
Command Protocol |
RS232 via USB virtual COM port |
Via X-Cite XR2100 |
|
Power Supply |
2 x 3.6 V Lithium Battery |
Via X-Cite XR2100 |
|
Weight |
1 lb (450 g) |
2.9 oz (82 g) |
|
Dimensions (without cover) |
7.5"x 4.5"x 2" (19 cm x 11.5 cm x 5 cm) |
3" x 1" x 0.35" (75 mm x 2 5mm x 9 mm) |
|
Worldwide Certifications |
CE marked, RoHS compliant |
Via X-Cite XR2100 |
|
Warranty |
1 year |
1 year |
|
Patents |
X-Cite Optical Power Measurement System incorporates technology protected by the following patents: US#6,437,861; US#7,335,901 |
|
*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***Calibration of X-Cite XR2100 and X-Cite XP750 is recommended every twelve months. Contact us for further information.
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TECHNICAL SPECIFICATIONS |
X-Cite XR2100 |
X-Cite XP750 |
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Includes |
Handheld power meter, adapter for 3mm light guide, software CD, cables, user manual |
Objective plane power sensor with cable / connector for X-Cite XR2100 |
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Power Range |
50 mW-10 W |
5 µW-500 mW |
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Measurement Resolution |
0.1 mW-0.01 W |
0.01 µW-1 mW |
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Uncertainty*** |
±5% |
±6% |
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Response Time |
1 s |
600 ms (initial), 3 s (to ensure stable reading) |
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Calibration |
Traceable to NIST* |
Traceable to NRC** |
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Wavelength Range |
340 nm-675 nm |
320 nm-750 nm |
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Lamp Type / Light Source Compatibility |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Series (using 3 mm light guide input port) |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Series, Mercury / HBO, Metal Halide, Xenon, LED, Laser |
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Objective Compatibility |
Not applicable |
4X-63X; air coupled, with FOV diameters less than 10mm |
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Display |
3 digit LCD, backlight |
Via X-Cite XR2100 |
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Wavelength Selection |
Not Applicable |
1nm increments using up / down buttons on X-Cite XR2100 or PC interface |
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Data Capacity |
Store 100+ readings on handheld unit, or record directly into PC interface; export in spreadsheet compatible format |
Via X-Cite XR2100 |
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PC Controls |
View / change settings, download / export stored data |
View / change settings, define favorite wavelengths, record data for multiple objectives / filters / intensity settings, download / export stored data |
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Command Protocol |
RS232 via USB virtual COM port |
Via X-Cite XR2100 |
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Power Supply |
2 x 3.6 V Lithium Battery |
Via X-Cite XR2100 |
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Weight |
1 lb (450 g) |
2.9 oz (82 g) |
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Dimensions (without cover) |
7.5"x 4.5"x 2" (19 cm x 11.5 cm x 5 cm) |
3" x 1" x 0.35" (75 mm x 2 5mm x 9 mm) |
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Worldwide Certifications |
CE marked, RoHS compliant |
Via X-Cite XR2100 |
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Warranty |
1 year |
1 year |
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Patents |
X-Cite Optical Power Measurement System incorporates technology protected by the following patents: US#6,437,861; US#7,335,901 |
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*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***Calibration of X-Cite XR2100 and X-Cite XP750 is recommended every twelve months. Contact us for further information.