Inspec.x M

inspec.x M

Die inspec.x M Objektive bieten speziell für Line-Scan- und Area-Scan-Anwendungen mit wenig Licht die perfekte Lösung. Diese F-Mount-Objektive sind mit einem arretierbaren manuellem Fokusring und einer manuellen Blende ausgestattet. Sie sind optimal für Sensoren bis zum Format 35 mm, wenn eine besonders hohe Apertur erforderlich ist. Die Objektivserie inspec.X M 1.4/50 mm ist für den Einsatz im sichtbaren Spektralbereich oder im nahen Infrarot erhältlich.

Die Objektive der Serie inspec.x M schließt bei Machine Vision Anwendungen die Lücke zwischen unseren herausragenden C-Mount MeVis-C Objektiven und unseren inspec.x L Objektiven für große Sensoren.

Die NIR Variante weist eine Beschichtung von 900 bis 1350 nm auf und ist ideal für Anwendungen in der Elektro- und Photolumineszenz.

  • Hohe Auflösung und Kontrast
  • Großer Maßstabsbereich
  • Hohe numerische Apertur
  • Maßstabsbereich: 0 ... - 0,15
  • Bildkreis: 43,3 mm
  • Max. Sensorgröße: 35 mm Format
  • Kameraanschluss: F-Mount
  • Fokussierung: manuell, arretierbar
  • Irisblende: manuell, arretierbar

Produktfoto_MachVis_5.3_w-Overlay-Produkte_1075x1095px_4

Artikel-Nr.Produkt-
bezeichnung
Brenn-
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Blenden-
zahl
Blendenzahl-
bereich
Maßstabs-
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optimierter MaßstabBildkreisMax. SensorgrößeSchnittstelleFiltergewinde
mmmmDurchmesser, mm
0009-243- 000-40inspec.x M 1.4/50x501,41.4 … 16-0.15 ... 0-0,0743,3KleinbildformatF-MountM58x0.75
0009-243- 000-42inspec.x M NIR 1.4/50501,41.4 … 16-0.15 ... 0-0,0743,3KleinbildformatF-MountM58x0.75

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