Objektive für Inspektion und Machine Vision
Excelitas produziert ein breites Spektrum an Objektiven und Imaging Systemen für alle gängigen Bildverarbeitungsaufgaben. Eine breite Auswahl an hochwertigen Standardobjektiven ermöglicht es Ihnen, für nahezu jede Anwendung das passende Objektiv zu finden, in der Bildverarbeitung, Mikroinspektion und in der automatisierten optischen Inspektion.
Wenn Sie in unserer umfangreichen Auswahl an Standardobjektiv nicht die optimale Lösung finden, greifen Sie auf unsere jahrzehntelange Anwendungserfahrung zurück im Design von innovativen optischen Abbildungssystemen. Unter der Berücksichtigung ihrer individuellen Kameralösung entwickeln wir für Sie mit Hilfe unseres umfassenden systemischen Fachwissens in den Bereichen Beleuchtung, Sensorik und Elektronik eine individuell für Sie angepasste Lösung.
MachVis Objektivauswahl
Excelitas stellt Ihnen unsere kostenlose MachVis-Objektivauswahl zur Verfügung, damit Sie die ideale LINOS®- oder Optem®-Objektivlösung für Ihre Bildgebungs- oder Bildverarbeitungsanforderungen finden. Wenn mechanisches Zubehör benötigt wird, zeigt MachVis alle erforderlichen Teile an und erzeugt …
Mehr lesen
d.fine HR-M Serie
Die neue LINOS d.fine HR-M Objektivserie von Excelitas besticht durch ihre hervorragenden Abbildungseigenschaften über das große Bildfeld. Die großen Blenden wurden mit Blick auf Effizienz und Durchsatz entwickelt, optimieren den Lichtdurchsatz und minimieren …
Mehr lesen
d.fine HR 2.4/128 Objektiv
Das hochauflösende Inspektionsobjektiv LINOS® d.fine HR 2.4/128 3.33X ist für einen 3,33-fachen Vergrößerungsfaktor optimiert und erreicht eine Objektauflösung von bis zu 300 lp/mm bei Bildkreisdurchmessern von bis zu 82 mm. Mit zusätzlichem modularem Zubehör ermöglicht das d.fine HR 2.4/128 eine ...
Mehr lesen
Inspec.x Hochauflösende Objektive für große Sensoren
Die LINOS Inspec.x Objektivreihe besteht aus verschiedenen Serien mit hervorragender Abbildungsleistung für große Sensoren. Die Objektivreihe deckt unterschiedliche Abbildungsmaßstabsbereiche ab und stellt mit einem Prismen- und Flächenscanmodul Lösungen für Zeilen- und Flächenabbildungen zur Verfügung. Die Objektive überzeugen durch ihre exzellente …
Mehr lesen
MeVis C-Mount Objektive
Die LINOS® MeVis-C Objektive sind speziell für höchstauflösende Sensoren bis zu einem Durchmesser von einem Zoll entwickelt. Hervorragende Auflösung kombiniert mit geringer Verzerrung, minimaler Vignettierung und exzellenter Farbkorrektur und Farbwiedergabe über 450 bis 900 nm. Entwickelt mit …
Mehr lesen
Rodagon Scan-Objektive
Die Scanobjektive der LINOS® Rodagon Produktreihe stammen aus unserem Qipotiq® Erbe. Sie bieten eine breite Modellauswahl an hochleistungsfähigen optischen Objektiven komplettiert mit robuster Mechanik für Großformatkameras mit industrieller Abbildungsleistung mit vielseitiger Einsatzmöglichkeit.
Mehr lesen
Optem FUSION-Mikroskopsystem
Das Optem® FUSION-Mikroskopsystems ist die neueste Weiterentwicklung in der Mikroskoptechnik. Das modulare Design und die nach unendlich korrigierte Optik bietet ideale Vorraussetzungen für den vielfältigen Einsatz in der Inspektion, Machine Vision, Überwachung und anderen kontaktfreien Messtechnikanwendungen. Verfügbar mit manuellem oder motorisiertem ...
Mehr lesen
Mag.x 125 Weitwinkel-Mikroskopsystem
Das auf unserem für optische Exzellenz bekannten Qioptiq®-Erbe basierende System mag.x 125 repräsentiert eine neue Baureihe optischer Systeme, die eine mikroskopische Auflösung bei großen Sichtfeldern ermöglichen und moderne, hochauflösende Sensoren mit bis zu 57 mm Durchmesser unterstützen. Das variable System ist vollständig modular ...
Mehr lesen
Makro CCD Objektive
Die LINOS® Makro Objektive von Excelitas wurden für CCD Kameras entwickelt und liefern außergewöhnliche Auflösung, Kontrast, Farbneutralität und praktisch eine verzeichnungsfreie Abildung.
Mehr lesen
A-Zoom Inspektionsmikroskope
Basierend auf unserem Qioptiq®-Erbe bietet Excelitas das analytische Inspektionsmikroskop A-Zoomµ Micro® mit Einzelobjektiv für eine hochwertige Abbildung in der Leiterplatteninspektion an. Das kompakte Design mit Einzelobjektiv eliminiert das umständliche Hantieren mit dem Revolverkopf, wodurch der Durchsatz bei der Halbleiterinspektion verbessert wird.
Mehr lesen