Objektive für Inspektion und Machine Vision

Excelitas produziert ein breites Spektrum an Objektiven und Imaging Systemen für alle gängigen Bildverarbeitungsaufgaben. Eine breite Auswahl an hochwertigen Standardobjektiven ermöglicht es Ihnen, für nahezu jede Anwendung das passende Objektiv zu finden, in der Bildverarbeitung, Mikroinspektion und in der automatisierten optischen Inspektion.

Wenn Sie in unserer umfangreichen Auswahl an Standardobjektiv nicht die optimale Lösung finden, greifen Sie auf unsere jahrzehntelange Anwendungserfahrung zurück in der Entwicklung von innovativen optischen Abbildungssystemen unter Berücksichtigung ihrer individuellen Kameralösung und auf ein umfassendes systemisches Fachwissen in den Bereichen Beleuchtung, Sensorik und Elektronik, um eine individuell für Sie angepasste Lösung zu finden.

LINOS Objektivlösungen für Machine Vision – Broschüre

LINOS Katalogbeilage – Neuigkeiten und Highlights

MachVis Objektiv – Konfigurationssoftware

Excelitas offers our complimentary MachVis Lens Configurator to help you identify the perfect LINOS® or Optem® lens solution for your imaging or machine vision requirements. MachVis identifies all required mechanical accessories that you will need and generates useful...

Inspec.x Hochauflösende Objektive für große Sensoren

Die LINOS Inspec.x Objektivreihe besteht aus verschiedenen Serien mit hervorragender Abbildungsleistung für große Sensoren. Die Objektivreihe deckt unterschiedliche Abbildungsmaßstabsbereiche ab und stellt mit einem Prismen- und Flächenscanmodul Lösungen für Zeilen- und Flächenabbildungen zur Verfügung. Die Objektive überzeugen durch ihre exzellente …

d.fine HR 2.4/128 Objektiv

The LINOS® d.fine HR 2.4/128 3.33X high-resolution inspection lens is optimized for a magnification factor of 3.33X achieving object resolution of up to 300 lp/mm across image circle diameters as large as 82 mm. With the addition of modular accessories, the d.fine HR 2.4/128 enables...

MeVis C-Mount Objektive

LINOS® MeVis-C Lenses are specifically developed for the highest-resolution sensors up to 1". Außergewöhnliche Auflösung kombiniert mit geringer Verzeichnung, minimaler Vignettierung und exzellenter Farbkorrektur und Farbwiedergabe über 450 bis 900 nm. The LINOS MeVis-C Lenses designed with...

Hauptkomponenten des Optem FUSION-Mikrobildgebungs-Objektivsystems

Optem FUSION-Mikroskopsystem

Optem® FUSION Micro-Imaging Lens System is the next generation of precision micro-imaging lens system. Das modulare Design und die nach unendlich korrigierte Optik bietet ideale Vorraussetzungen für den vielfältigen Einsatz in der Inspektion, Machine Vision, Überwachung und anderen kontaktfreien Messtechnikanwendungen. Available in manual or motorized...

Mag.X-System 125 Hochauflösendes Weitwinkel-Mikroskop-Inspektionssystem

Mag.x 125 Weitwinkel-Mikroskopsystem

Evolving from our Qioptiq® heritage for optical excellence, the mag.x system 125 represents a new class of optical systems that enable microscope-like resolution with wide fields-of-view supporting modern high resolution sensors up to 57 mm diameter. The variable system is fully modular...

Die Scan-Objektive der LINOS Rodagon-Familie bieten Kameravielseitigkeit und hochwertige Bildgebungsleistung für den Bereich des maschinellen Sehens

Rodagon Scan-Objektive

Rising from our Qipotiq® heritage, The LINOS® Rodagon family of scan lenses offers a variety of models that combine high-performance optics with robust mechanics to deliver industrial-grade performance and versatility for large format cameras.

Makro CCD Objektive

Excelitas' LINOS® Macro Lenses are developed for CCD Cameras and deliver exceptional resolution, contrast, color neutrality and virtually distortion-free imaging.

Analytisches A-Zoom Inspektionsmikroskop

A-Zoom Inspektionsmikroskope

Originating from our Qioptiq® heritage, Excelitas offers the A-Zoomµ Micro®, Single-Objective, Analytical Probing Microscope for value-added wafer imaging. Das kompakte Design mit Einzelobjektiv eliminiert das umständliche Hantieren mit dem Revolverkopf, wodurch der Durchsatz bei der Halbleiterinspektion verbessert wird.