TEIL/ 85108072309

pco.edge 4.2 CLHS sCMOS-Kamera

pco.edge 4.2 CLHS

Die pco.edge 4.2 ist eine hochauflösende, gekühlte sCMOS-Kamera, die mit Streaming über eine 10G-FOL-Schnittstelle (Camera Link HS) arbeitet und die direkte Verarbeitung großer Datenmengen über ihre Hochleistungs-Datenschnittstelle ermöglicht. Auf diese Weise können Entfernungen von bis zu 10 km problemlos und sicher überbrückt werden. Sie ist mit einem rauscharmen 16-Bit-scientific-CMOS-Sensor ausgestattet, der für scharfe Bilder und präzise Messungen sorgt. Die sCMOS-Kamera pco.edge 4.2 kann optional mit einem Wasserkühlsystem aufgerüstet werden.

Sensortechnologie sCMOS FSI
Auflösung (H × V) 2048 x 2048
Pixelgröße (H x V) 6.5 x 6.5
Sensordiagonale 18,8 mm
Spitzenquanteneffizienz 80,0%
Wellenlänge mit maximaler Quantenausbeute 580,0 nm
Global Shutter nicht zutreffend
Rolling Shutter ja
Global Reset nicht zutreffend
Betriebsarten Langsamer Scan: Rolling Shutter mit wählbarer Ausleserichtung
Schneller Scan: Rolling Shutter mit wählbarer Ausleserichtung
Ausleserauschen (RMS) 1,5 e-
1,6 e-
Median des Ausleserauschens 0,8 e-
0,9 e-
Fullwell Capacity 30000 e-
Dynamik 37500:1
33500:1
Dynamikumfang (log) 91,0 dB
90,0 dB
Dunkelstrom 0,6 e-/s
Sensortemperatur (Dunkelstromreferenz) 7,0°C
Bilderate (Vollsensor) 35,0 fps
100,0 fps
Dynamikumfang A/D-Wandler 16 bit
Thermoelektrische Kühlung ja
Zwangsbelüftung ja
Flüssigkeitskühlung nicht zutreffend
Betriebstemperatur des Bildsensors +7°C stabilisiert (bis zu +27°C Umgebungstemperatur)
Datenschnittstelle Camera Link HS FOL
Objektivfassung im Lieferumfang enthalten C-Mount
F-Mount
Breite 70,0 mm
Länge 123,0 mm
Gewicht (kg) 0,8
Höhe 76,0 mm
Teilenummer 85108072309
  • Hellfeldmikroskopie
  • Fluoreszenzmikroskopie
  • Digitale Pathologie
  • Einzelmolekül-Lokalisierungsmikroskopie (SMLM) – PALM, STORM, dSTORM, GSDIM
  • Lichtblatt-Fluoreszenzmikroskopie (LSFM)
  • Mikroskopie mit strukturierter Beleuchtung (SIM)
  • Kalzium-Imaging
  • Förster-Resonanz-Energieübertragung (FRET)
  • Fluoreszenzerholung nach Photobleichung (FRAP)
  • Hochgeschwindigkeits-Bildgebung im Hellfeldverhältnis
  • Screening mit hohem Durchsatz | Screening mit hohem Inhalt
  • Biochip-Auslesen
  • Totalreflexions-Mikroskopie (TITF)
  • Konfokale Spinnscheibenmikroskopie
  • 3D-Metrologie
  • Ophthalmologie
  • Photovoltaik-Inspektion
  • Industrielle Qualitätskontrolle
  • Waferinspektion
  • Bildverstärker-Bildgebung
  • Lucky Imaging
  • Partikelverfolgungs-Velozimetrie (PTV)
Sensortechnologie sCMOS FSI
Auflösung (H × V) 2048 x 2048
Pixelgröße (H x V) 6.5 x 6.5
Sensordiagonale 18,8 mm
Spitzenquanteneffizienz 80,0%
Wellenlänge mit maximaler Quantenausbeute 580,0 nm
Global Shutter nicht zutreffend
Rolling Shutter ja
Global Reset nicht zutreffend
Betriebsarten Langsamer Scan: Rolling Shutter mit wählbarer Ausleserichtung
Schneller Scan: Rolling Shutter mit wählbarer Ausleserichtung
Ausleserauschen (RMS) 1,5 e-
1,6 e-
Median des Ausleserauschens 0,8 e-
0,9 e-
Fullwell Capacity 30000 e-
Dynamik 37500:1
33500:1
Dynamikumfang (log) 91,0 dB
90,0 dB
Dunkelstrom 0,6 e-/s
Sensortemperatur (Dunkelstromreferenz) 7,0°C
Bilderate (Vollsensor) 35,0 fps
100,0 fps
Dynamikumfang A/D-Wandler 16 bit
Thermoelektrische Kühlung ja
Zwangsbelüftung ja
Flüssigkeitskühlung nicht zutreffend
Betriebstemperatur des Bildsensors +7°C stabilisiert (bis zu +27°C Umgebungstemperatur)
Datenschnittstelle Camera Link HS FOL
Objektivfassung im Lieferumfang enthalten C-Mount
F-Mount
Breite 70,0 mm
Länge 123,0 mm
Gewicht (kg) 0,8
Höhe 76,0 mm
Teilenummer 85108072309
  • Hellfeldmikroskopie
  • Fluoreszenzmikroskopie
  • Digitale Pathologie
  • Einzelmolekül-Lokalisierungsmikroskopie (SMLM) – PALM, STORM, dSTORM, GSDIM
  • Lichtblatt-Fluoreszenzmikroskopie (LSFM)
  • Mikroskopie mit strukturierter Beleuchtung (SIM)
  • Kalzium-Imaging
  • Förster-Resonanz-Energieübertragung (FRET)
  • Fluoreszenzerholung nach Photobleichung (FRAP)
  • Hochgeschwindigkeits-Bildgebung im Hellfeldverhältnis
  • Screening mit hohem Durchsatz | Screening mit hohem Inhalt
  • Biochip-Auslesen
  • Totalreflexions-Mikroskopie (TITF)
  • Konfokale Spinnscheibenmikroskopie
  • 3D-Metrologie
  • Ophthalmologie
  • Photovoltaik-Inspektion
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