A-Zoom Inspektionsmikroskope

Excelitas bietet das analytische Inspektionsmikroskop A-Zoomµ Micro^® mit Einzelobjektiv für eine hochwertige Abbildung in der Leiterplatteninspektion an. Das kompakte Design mit Einzelobjektiv eliminiert das umständliche Hantieren mit dem Revolverkopf, wodurch der Durchsatz bei der Halbleiterinspektion verbessert wird. Das A-Zoomµ Micro wurde für einen optimierten Betrieb und eine kompakte Integration in eine Vielzahl von Prober Stationen entwickelt. Es ist eine hochwertige Lösung für die Leiterplatten-, Halbleiter- und Flachbildschirm Inspektion, bei der Sie weder auf Ausstattung und Funktionen noch auf die Leistungsfähigkeit verzichten müssen.