Excelitas C39737LH Silizium APD in LCC-Gehäuse
TEIL/ C30737LH-230-83N

C30737LH-230-83N – Si APD, 230 µm, LCC Gehäuse, 800 nm optimiert, 650 nm Bandpassfilter

Die C30737LH-230-83N Silizium-Avalanche-Fotodiode (Si APD) bietet einen aktiven Durchmesser von 230 µm mit verbesserter 800-nm-Reaktion und 650 nm optischem Bandpass in einem bleifreien Keramikträger (LCC).

Hauptmerkmale:

  • Hohe Empfindlichkeit mit Filter bei 650 nm
  • Geringes Rauschen und extrem schnelle Anstiegszeit mit einer Grenzfrequenz von über 1,5 GHz
  • Aktiver Durchmesser von 230 μm
  • Optischer Bandpassfilter bei 650 nm
  • SMD Keramikgehäuse (LCC)

Anwendungen:

  • LiDAR
  • Laserbasierte Entfernungsmessung
  • Laser Scanner
  • Anwendungen, die einen kostengünstigen, hochleistungsfähigen Detektor erfordern

Aktiver Durchmesser: 230 μm

Maximum der spektralen Empfindlichkeit: 650 nm

Durchbruchspannung Vbd: 120 V – 210 V (kann selektiert werden)

Temperatur-Koeffizient von Vop für konstante Verstärkung: 0,5 V/°C

Verstärkung: 100 @ 650 nm

Empfindlichkeit: 35 A/W bei 650 nm

Dunkelstrom Id: 0,05 <0.5 nA

Rauschstrom: 0,1 pA/√Hz

Kapazität: 1 pF

Anstiegs-/Abfallzeit: 0,2 ns bei 50 Ω Abschlusswiderstand

Grenzfrequenz: 1,5 GHz

Lagertemperatur: -50°C bis +100°C

Betriebstemperatur: -40°C bis +85°C

Gehäuse: 3x3 mm Glasfenster, LCC Keramikgehäuse

Fenster: 650 nm Filter

Aktiver Durchmesser: 230 μm

Maximum der spektralen Empfindlichkeit: 650 nm

Durchbruchspannung Vbd: 120 V – 210 V (kann selektiert werden)

Temperatur-Koeffizient von Vop für konstante Verstärkung: 0,5 V/°C

Verstärkung: 100 @ 650 nm

Empfindlichkeit: 35 A/W bei 650 nm

Dunkelstrom Id: 0,05 <0.5 nA

Rauschstrom: 0,1 pA/√Hz

Kapazität: 1 pF

Anstiegs-/Abfallzeit: 0,2 ns bei 50 Ω Abschlusswiderstand

Grenzfrequenz: 1,5 GHz

Lagertemperatur: -50°C bis +100°C

Betriebstemperatur: -40°C bis +85°C

Gehäuse: 3x3 mm Glasfenster, LCC Keramikgehäuse

Fenster: 650 nm Filter

Schließen