Excelitas C30737MH-230-80N Silizium-Avalanche-Photodiode (Si APD)
TEIL/ C30737MH-230-80N

C30737MH-230-80N – Si APD, 230 µm, LLC Gehäuse, 800 nm optimiert

Die C30737MH-230-80N Silizium Avalanche-Photodiode (Si APD) wird in einem Leadless Laminate Carrier (LLC) Gehäuse geliefert, besitzt einen aktiven Durchmesser von 230 µm und bietet eine optimierte Empfindlichktei bei 800 nm.

Hauptmerkmale:

  • Hohe Empfindlichkeit zwischen 500 nm und 1000 nm
  • Geringes Rauschen und extrem schnelle Anstiegszeiten über alle Wellenlängen mit einer Grenzfrequenz von über 1,5 GHz
  • Aktiver Durchmesser von 230 μm, optimiert für maximale Emfindlichkeit bei 800 nm
  • LLC SMD Gehäuse

Anwendungen:

  • LiDAR
  • Laserbasierte Entfernungsmessung
  • Laser Scanner
  • Anwendungen, die einen kostengünstigen, hochleistungsfähigen Detektor erfordern

Aktiver Durchmesser 230 μm
Maximum der spektralen Empfindlichkeit 800 nm
Durchbruchspannung Vbd 120–210 (kann selektiert werden)
Temperatur-Koeffizient von Vop für konstante Verstärkung 0,5 V/°C
Verstärkung 100 @800nm
Empfindlichkeit 50 A/W bei 800 nm
Dunkelstrom Id 0,05 <0,5 nA
Rauschstrom 0,1 pA/√Hz
Kapazität 1 pF
Anstiegs-/Abfallzeit 0,2 ns Lastwiderstand 50 Ω
Grenzfrequenz 1,5 GHz
Lagertemperatur -50°C bis +100°C
Betriebstemperatur -40°C bis +85°C
Gehäuse 2x1,75 mm Top-looking FR4-Epoxid-Substrat, bleifrei laminiert (LLC)
Aktiver Durchmesser 230 μm
Maximum der spektralen Empfindlichkeit 800 nm
Durchbruchspannung Vbd 120–210 (kann selektiert werden)
Temperatur-Koeffizient von Vop für konstante Verstärkung 0,5 V/°C
Verstärkung 100 @800nm
Empfindlichkeit 50 A/W bei 800 nm
Dunkelstrom Id 0,05 <0,5 nA
Rauschstrom 0,1 pA/√Hz
Kapazität 1 pF
Anstiegs-/Abfallzeit 0,2 ns Lastwiderstand 50 Ω
Grenzfrequenz 1,5 GHz
Lagertemperatur -50°C bis +100°C
Betriebstemperatur -40°C bis +85°C
Gehäuse 2x1,75 mm Top-looking FR4-Epoxid-Substrat, bleifrei laminiert (LLC)
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