Excelitas C39737PH Silizium-APD in einem Kunststoffgehäuse
TEIL/ C30737PH-230-90N

C30737PH-230-90N – Si APD, 230 µm, Kunststoffgehäuse, 900 nm optimiert

Die C30737PH-230-90N Silizium Avalanche-Photodiode (Si APD) wird in einem T 1¾ Kunststoffgehäuse geliefert, besitzt einen aktiven Durchmesser von 230 µm und bietet eine optimierte Empfindlichkeit bei 900 nm.

Hauptmerkmale:

  • Hohe Empfindlichkeit zwischen 500 nm und 1000 nm
  • Geringes Rauschen und extrem schnelle Anstiegszeiten über alle Wellenlängen mit einer Grenzfrequenz von über 380 MHz
  • Aktiver Durchmesser von 230 μm, optimiert für maximale Empfindlichkeit bei 900 nm
  • Kunststoffgehäuse T 1-3/4

Anwendungen:

  • LiDAR
  • Laserbasierte Entfernungsmessung
  • Laser Scanner
  • Anwendungen, die einen kostengünstigen, hochleistungsfähigen Detektor erfordern

  • Aktiver Durchmesser: 230 μm
  • Maximum der spektralen Empfindlichkeit: 900 nm
  • Durchbruchspannung Vbd: 180 V – 260 V
  • Temperaturkoeffizient von Vop für konstante Verstärkung: 1,3 V/°C
  • Verstärkung: 100 bei 900 nm
  • Empfindlichkeit: 60 A/W bei 800 nm
  • Dunkelstrom Id: 0,05 <0.5 nA
  • Rauschstrom: 0,1 pA/√Hz
  • Kapazität: 0,6 pF
  • Anstiegs-/Abfallzeit: 0,9 ns bei 50 Ω Abschlusswiderstand
  • Cut-off Frequency: 380 MHz
  • Lagertemperatur: -50°C bis +100°C
  • Betriebstemperatur: -40°C bis +85°C
  • Gehäuse: Kunststoffgehäuse T 1¾
  • Aktiver Durchmesser: 230 μm
  • Maximum der spektralen Empfindlichkeit: 900 nm
  • Durchbruchspannung Vbd: 180 V – 260 V
  • Temperaturkoeffizient von Vop für konstante Verstärkung: 1,3 V/°C
  • Verstärkung: 100 bei 900 nm
  • Empfindlichkeit: 60 A/W bei 800 nm
  • Dunkelstrom Id: 0,05 <0.5 nA
  • Rauschstrom: 0,1 pA/√Hz
  • Kapazität: 0,6 pF
  • Anstiegs-/Abfallzeit: 0,9 ns bei 50 Ω Abschlusswiderstand
  • Cut-off Frequency: 380 MHz
  • Lagertemperatur: -50°C bis +100°C
  • Betriebstemperatur: -40°C bis +85°C
  • Gehäuse: Kunststoffgehäuse T 1¾
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