X-Cite Optisches System zur Leistungsmessung

Großer dynamischer Bereich

X-Cite XP750 ist für den Einsatz bei jeder Wellenlänge zwischen 320 nm und 750 nm kalibriert und mit einer Vielzahl von Filtern kompatibel. Mit einer Empfindlichkeit der Leistungsstufen von 5 µW bis 500 mW eignet es sich für Anwendungen, die sowohl eine Beleuchtung mit niedriger als auch mit hoher Intensität verwenden. Dadurch ist es für den Einsatz in Standard-, Konfokal-, DSU- und anderen Mikroskopkonfigurationen geeignet.

Vielseitig und komfortabel

X-Cite XP750 misst das Licht direkt auf dem Mikroskoptisch und lässt sich daher mit jeder Epi-Fluoreszenz-Lichtquelle verwenden: HBO/Quecksilber-, Metallhalogenid- oder Xenon-Lampen, Laser und LEDs. Durch Hunderte von Wellenlängen zur Auswahl bietet X-Cite XR2100 die Möglichkeit, „Lieblingswellenlängen“ zu definieren, die den am häufigsten verwendeten Quellen und Filtern entsprechen.

Reproduzierbare Ergebnisse

Das Messen und Aufzeichnen der Leistungsabgabe in absoluten Einheiten (Watt) mit X-Cite ermöglicht es, die in einem Experiment verwendeten Beleuchtungsstärken immer zu wiederholen. Dabei spielt es keine Rolle, wie sich Lichtquellen, Lichtleiter, Filter und andere optische Komponenten im Laufe der Zeit verändern. Diese einzigartige Fähigkeit ist für die Reduzierung der Bildverarbeitungszeit nach dem Experiment, die Durchführung genauer, quantitativer Bildvergleiche und die Erstellung einer vollständigen Experimentdokumentation von entscheidender Bedeutung.