X-Cite Optisches System zur Leistungsmessung
Das optische Leistungsmesssystem X-Cite® wurde für die Messung der optischen Leistung in Watt auf Probenebene entwickelt. Dies ermöglicht eine gleichmäßige und wiederholbare Beleuchtung bei Forschungsexperimenten und hilft bei der Einrichtung der Ausrüstung und bei der Fehlersuche. Das System beinhaltet den X-Cite XP750-Sensor, der über ein niedriges, schlankes Profil verfügt. So passt er auf den Mikroskoptisch und bietet die Vielseitigkeit der Messung der Ausgangsleistung einer X-Cite Mikroskopbeleuchtung oder jeder anderen Epi-Fluoreszenz-Lichtquelle. Durch den Einbau eines großen dynamischen Bereichs in einen kompakten Sensor, ist es einfacher denn je geworden, diese wichtigen Informationen zu erhalten.
Großer dynamischer Bereich
X-Cite XP750 ist für den Einsatz bei jeder Wellenlänge zwischen 320 nm und 750 nm kalibriert und mit einer Vielzahl von Filtern kompatibel. Mit einer Empfindlichkeit der Leistungsstufen von 5 µW bis 500 mW eignet es sich für Anwendungen, die sowohl eine Beleuchtung mit niedriger als auch mit hoher Intensität verwenden. Dadurch ist es für den Einsatz in Standard-, Konfokal-, DSU- und anderen Mikroskopkonfigurationen geeignet.
Vielseitig und komfortabel
X-Cite XP750 misst das Licht direkt auf dem Mikroskoptisch und lässt sich daher mit jeder Epi-Fluoreszenz-Lichtquelle verwenden: HBO/Quecksilber-, Metallhalogenid- oder Xenon-Lampen, Laser und LEDs. Durch Hunderte von Wellenlängen zur Auswahl bietet X-Cite XR2100 die Möglichkeit, „Lieblingswellenlängen“ zu definieren, die den am häufigsten verwendeten Quellen und Filtern entsprechen.
Reproduzierbare Ergebnisse
Das Messen und Aufzeichnen der Leistungsabgabe in absoluten Einheiten (Watt) mit X-Cite ermöglicht es, die in einem Experiment verwendeten Beleuchtungsstärken immer zu wiederholen. Dabei spielt es keine Rolle, wie sich Lichtquellen, Lichtleiter, Filter und andere optische Komponenten im Laufe der Zeit verändern. Diese einzigartige Fähigkeit ist für die Reduzierung der Bildverarbeitungszeit nach dem Experiment, die Durchführung genauer, quantitativer Bildvergleiche und die Erstellung einer vollständigen Experimentdokumentation von entscheidender Bedeutung.
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TECHNISCHE DATEN |
X-Cite XR2100 |
X-Cite XP750 |
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Lieferumfang |
Tragbarer Leistungsmesser, Adapter für 3-mm-Lichtleiter, Software-CD, Kabel, Benutzerhandbuch |
Objektivebenen-Leistungssensor mit Kabel/Stecker für X-Cite XR2100 |
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Leistungsbereich |
50 mW–10 W |
5 µW–500 mW |
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Messauflösung |
0,1 mW–0,01 W |
0,01 µW–1 mW |
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Unsicherheit*** |
±5% |
±6% |
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Reaktionszeit |
1 s |
600 ms (initial), 3 s (um eine stabile Ablesung zu gewährleisten) |
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Kalibrierung |
Auf NIST* rückführbar |
Auf NRC** rückführbar |
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Wellenlängenbereich |
340 nm–675 nm |
320 nm–750 nm |
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Kompatibilität von Lampentyp/Quelle |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Serie (mit 3 mm Lichtleiter-Eingangsanschluss) |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Serie, Quecksilber/HBO, Metallhalogenid, Xenon, LED, Laser |
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Objektivkompatibilität |
Nicht zutreffend |
4X-63X; luftgekoppelt, mit FOV-Durchmessern von weniger als 10 mm |
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Display |
3-stelliges LCD-Display, Hintergrundbeleuchtung |
Über X-Cite XR2100 |
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Wellenlängenauswahl |
Nicht zutreffend |
1-nm-Inkremente unter Verwendung der Auf-/Ab-Tasten auf X-Cite XR2100 oder der PC-Schnittstelle |
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Datenkapazität |
Speichern von 100+ Messwerten auf einem Handgerät oder direkte Aufzeichnung in der PC-Schnittstelle, Export in ein Tabellenkalkulations-kompatibles Format |
Über X-Cite XR2100 |
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PC-Steuerungen |
Einstellungen ansehen/ändern, gespeicherte Daten herunterladen/exportieren |
Einstellungen ansehen/ändern, „Lieblingswellenlängen“ definieren, Daten für mehrere Ziele/Filter/Intensitätseinstellungen aufzeichnen, gespeicherte Daten herunterladen/exportieren |
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Befehlsprotokoll |
RS232 über USB virtuellen COM-Anschluss |
Über X-Cite XR2100 |
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Stromversorgung |
2 x 3,6-V-Lithiumbatterie |
Über X-Cite XR2100 |
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Gewicht |
1 lb (450 g) |
2,9 oz (82 g) |
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Abmessungen (ohne Abdeckung) |
7,5" x 4,5" x 2" (19 cm x 11,5 cm x 5 cm) |
3" x 1" x 0,35" (75 mm x 2 5 mm x 9 mm) |
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Weltweite Zertifizierungen |
CE-Kennzeichnung, RoHs-konform |
Über X-Cite XR2100 |
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Garantie |
1 Jahr |
1 Jahr |
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Patente |
X-Cite Optisches System zur Leistungsmessung enthält durch die folgenden Patente geschützte Technologien: US#6,437,861; US#7,335,901 |
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*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***Die Kalibrierung von X-Cite XR2100 und X-Cite XP750 wird alle zwölf Monate empfohlen. Kontaktieren Sie uns für weitere Informationen.
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TECHNISCHE DATEN |
X-Cite XR2100 |
X-Cite XP750 |
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Lieferumfang |
Tragbarer Leistungsmesser, Adapter für 3-mm-Lichtleiter, Software-CD, Kabel, Benutzerhandbuch |
Objektivebenen-Leistungssensor mit Kabel/Stecker für X-Cite XR2100 |
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Leistungsbereich |
50 mW–10 W |
5 µW–500 mW |
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Messauflösung |
0,1 mW–0,01 W |
0,01 µW–1 mW |
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Unsicherheit*** |
±5% |
±6% |
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Reaktionszeit |
1 s |
600 ms (initial), 3 s (um eine stabile Ablesung zu gewährleisten) |
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Kalibrierung |
Auf NIST* rückführbar |
Auf NRC** rückführbar |
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Wellenlängenbereich |
340 nm–675 nm |
320 nm–750 nm |
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Kompatibilität von Lampentyp/Quelle |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Serie (mit 3 mm Lichtleiter-Eingangsanschluss) |
X-Cite 200DC, X-Cite exacte, X-Cite 120 Serie, Quecksilber/HBO, Metallhalogenid, Xenon, LED, Laser |
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Objektivkompatibilität |
Nicht zutreffend |
4X-63X; luftgekoppelt, mit FOV-Durchmessern von weniger als 10 mm |
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Display |
3-stelliges LCD-Display, Hintergrundbeleuchtung |
Über X-Cite XR2100 |
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Wellenlängenauswahl |
Nicht zutreffend |
1-nm-Inkremente unter Verwendung der Auf-/Ab-Tasten auf X-Cite XR2100 oder der PC-Schnittstelle |
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Datenkapazität |
Speichern von 100+ Messwerten auf einem Handgerät oder direkte Aufzeichnung in der PC-Schnittstelle, Export in ein Tabellenkalkulations-kompatibles Format |
Über X-Cite XR2100 |
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PC-Steuerungen |
Einstellungen ansehen/ändern, gespeicherte Daten herunterladen/exportieren |
Einstellungen ansehen/ändern, „Lieblingswellenlängen“ definieren, Daten für mehrere Ziele/Filter/Intensitätseinstellungen aufzeichnen, gespeicherte Daten herunterladen/exportieren |
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Befehlsprotokoll |
RS232 über USB virtuellen COM-Anschluss |
Über X-Cite XR2100 |
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Stromversorgung |
2 x 3,6-V-Lithiumbatterie |
Über X-Cite XR2100 |
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Gewicht |
1 lb (450 g) |
2,9 oz (82 g) |
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Abmessungen (ohne Abdeckung) |
7,5" x 4,5" x 2" (19 cm x 11,5 cm x 5 cm) |
3" x 1" x 0,35" (75 mm x 2 5 mm x 9 mm) |
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Weltweite Zertifizierungen |
CE-Kennzeichnung, RoHs-konform |
Über X-Cite XR2100 |
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Garantie |
1 Jahr |
1 Jahr |
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Patente |
X-Cite Optisches System zur Leistungsmessung enthält durch die folgenden Patente geschützte Technologien: US#6,437,861; US#7,335,901 |
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*NIST – National Institute of Standards and Technology
**NRC – National Research Council
***Die Kalibrierung von X-Cite XR2100 und X-Cite XP750 wird alle zwölf Monate empfohlen. Kontaktieren Sie uns für weitere Informationen.